【PCB】PCB介電常數(shù)測(cè)試

2017-08-09  by:CAE仿真在線  來源:互聯(lián)網(wǎng)

因?yàn)镻CB材料的Dk和Df很小,需要比較精度高的測(cè)試方法。

低頻(<1GHz): 平板電容

高頻(>1GHz): 諧振法

平板電容法

如圖1所示。

圖1

平板電容的樣品需要3mm左右,50mm*50mm的正方形。如果樣品厚度不夠,可以多個(gè)疊加來測(cè)試。

諧振法測(cè)試都有一個(gè)缺陷:一個(gè)夾具測(cè)試一個(gè)頻點(diǎn),如果要測(cè)試多個(gè)頻點(diǎn),需要多夾具或者多個(gè)sample。真的很討厭,要是有個(gè)方法,能夠頻率掃描得到Dk和Df就好了。

諧振法主要有SPDR和三板帶狀線諧振器法。

SPDR(Split Post Dielectrical Resonator)法

如圖2所示,

圖2

測(cè)試不同頻率點(diǎn)的Dk和Df,需要用不同的夾具,而且材料的厚度不同。材料要做成薄片,越光滑越好。比如10G的夾具,要求材料厚度小于0.9mm。15G的夾具,要求材料厚度小于0.6mm。

目前有的夾具有1G、3G、 5G、 10G 和15G。

三板帶狀線諧振器法(IPC‐TM‐6502.5.5.5)

如圖3所示。

圖3

測(cè)試不同頻率點(diǎn)的Dk和Df,需要設(shè)計(jì)不同長(zhǎng)度和寬度的trace。需要準(zhǔn)備好多sample啊。

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